技術文章_第(50)頁－蘇州英飛思科學儀器有限公司

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2024-11-21

古董分析儀利用光譜分析、X射線熒光（XRF）等技術，對古董及藝術品進行非破壞性檢測，分析其成分、年代及制作工藝。它能夠精確測量古董中各種元素的含量，如鈉、鎂、鋁、鈣、鐵等，通過比對數(shù)據(jù)庫中的標準數(shù)據(jù)，判斷古董的真?zhèn)?、年代及產地。古董分析儀在長時間使用過程中，可能會出現(xiàn)故障。以下是...

2021
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XRF熒光光譜儀制樣方法的原理和依據(jù) XRF熒光光譜儀制樣方法的原理和依據(jù)樣品處理是整個分析檢測過程的重要組成部分。其目的是利用各種化學方法將測試元素以離子的形式從固（液）態(tài)樣品中定量轉移到測試溶液中。選擇合理的樣品分解方法可以大大簡化分析程序，大大提高分析方法的適應性和準確性。設計樣品處理的原則是：①保證樣品中所有被測元素都定量轉移到試液中，即樣品必須*分解；②避免在樣品處理過程中引入干擾元素，同時有助于去除干擾元素；③分解方法應盡可能簡單、易操作、經濟、快速、安全，盡量減少對環(huán)境的污染；④便于批量處理樣品。要...
2021
8-2

什么是X熒光光譜石油快速硫分析測試儀？什么是X熒光光譜石油測硫儀？X射線熒光硫分析儀是一種基于X射線熒光光譜分析的測試光譜儀。X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡稱：XRF光譜儀）是一種快速、無損的材料測量方法。其原理是用X射線激發(fā)源照射待分析的油樣。樣品中硫元素的內電子被敲除后，引起核外電子躍遷。當被激發(fā)的電子回到基態(tài)時，硫元素就會被放出。特征X射線。探測器接收這些硫元素的特征X射線信號，儀器軟件系統(tǒng)將其轉換為相應的測試強度。特征X射線強度與硫含量之間的關系是用標準物...
2021
8-2

使用X射線能量色散熒光光譜儀的測試程序和步驟使用X射線能量色散熒光光譜儀（XRFAnalyzer）的測試程序和步驟1光譜儀準備a)按照儀器的工作說明書給儀器通電，加熱設備，按廠家說明書對儀器進行穩(wěn)定。b)確保測試穩(wěn)定，并按照制造商的說明使檢測器穩(wěn)定2校準a)根據(jù)儀器用戶手冊的說明，按照第7節(jié)的說明選擇參考樣品作為校準樣品。樣品中的元素濃度應該不一樣。如果校準覆蓋的元素多，濃度范圍大，則需要大量的校準樣品。由于以下原因，校準樣品的數(shù)量有所減少：—用基本參數(shù)法校準（元素小于標準）—使用基本參數(shù)方法校準（使用具有相似元素的標...
2021
7-21

在 XRF 熒光光譜儀中使用壓片法與直接測試粉末樣品相比有哪些優(yōu)勢？在XRF熒光光譜儀中使用壓片法與直接測試粉末樣品相比有哪些優(yōu)勢？壓片制備步驟X射線熒光光譜(XRF)對樣品材料的制備高度敏感。壓縮的水泥樣品顯示出更高的信噪比，與松散的粉末形式相比，它可以檢測到最輕的元素。當元素組成被量化時，在預期值和松散粉末樣品之間觀察到明顯的差異。當使用同一批水泥制備壓縮顆粒時，這些差異將消失。XRF光譜分析信號由兩部分組成：特征波長處的X射線發(fā)射峰對應于分析樣品原子中發(fā)生的電子躍遷由松散束縛的外部電子散射的X射線的連續(xù)背景，發(fā)射峰疊加在其上這些特征X射...
2021
7-21

RoHS2.0 限制重金屬、鉛、鎘、汞和鉻的危害及其監(jiān)測方法 RoHS2.0限制重金屬、鉛、鎘、汞和鉻的危害及其監(jiān)測方法EDX-8000Brohs分析儀1.物質的理化常數(shù)國標號：CAS：7439-92-1中文名稱：鉛英文名稱：Lead;LeadFlake別名：無分子式：Pb分子量：207.2熔點：327℃密度：相對密度（水=1）11.34（蒸氣壓：970℃溶解性：不溶于水，溶于硝酸、熱濃硫酸、堿液，不溶于稀鹽酸穩(wěn)定性：穩(wěn)定外觀與性狀：灰白色軟粉末，切割面有光澤，延展性弱，延展性強危險標志：用途：主要用于電纜、電池、鉛冶煉、廢銅冶煉、印刷...
2021
7-21

X射線熒光光譜儀常見問題--EDXRF光譜儀系列英飛思科學儀器X射線熒光光譜儀常見問題--EDXRF光譜儀系列問：RoHS限制的六種物質是什么？答：六價鉻、鎘、鉛、汞、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚。問：RoHS限制的六種物質的含量限制是多少？答：六價鉻為1000PPM，鎘為100PPM，汞為1000PPM，鉛為1000PPM，多溴聯(lián)苯為1000PPM，多溴聯(lián)苯醚為1000PPM。問：EDX9000B的檢測范圍是多少？答：它可以檢測從鈉到鈾的各種元素。問：我們的設備可以做哪些測試？A：可做RoHS檢測、鹵素（Br、Cl）檢測、玩具八...
2021
7-21

XRF能量色散X射線熒光光譜儀的基質基體干涉效應分析 XRF能量色散X射線熒光光譜儀的基質基體干涉效應分析a)激發(fā)輻射的散射過程會影響樣品中元素的特征輻射強度。這是因為散射過程會影響光譜的背面?？捶?。此外，還有兩個主要影響：b)樣品中的激發(fā)輻射被吸收，其他元素（基質）發(fā)出由此產生的或熒光輻射。c)樣品中其他元素的二次激發(fā)（增強）?！芰喜牧希核芰蠘悠分械幕|會影響分析物的特征X射線強度，主要來自：—一次輻射的散射（主要是不連續(xù)的），這對背景光譜有很大的貢獻—在熒光輻射中的吸收，主要是由PVC中的Cl、Ca、Ti、Zn、Sn等添加...

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