EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer

能量色散X熒光光譜儀

礦產(chǎn)礦石專用分析儀

Simply the Best

>*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器

>真空光路配備薄膜濾光片技術(shù)，提高輕元素檢出限

>可同時(shí)分析40種元素

>可分析固體，液體，粉末和泥漿

>進(jìn)口X光管管芯提供可靠?jī)?yōu)秀樣品激發(fā)性能

>無(wú)損檢測(cè)，快速分析（1-2分鐘出結(jié)果）

>無(wú)需化學(xué)試劑，無(wú)耗材，更環(huán)保，更高效

EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產(chǎn)/礦石分析專家

ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，

生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究，考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動(dòng)態(tài)范圍，可實(shí)現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制。

具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測(cè)器，對(duì)輕、中、重元素和常見氧化物（Na₂O、MgO、Al₂O?、SiO?、P₂O₅、SO?、K₂O、CaO、TiO?、Cr₂O?、MnO、Fe₂O?、ZnO和SrO等）都可達(dá)到最佳分析效果。

EDX9000B plus優(yōu)秀的分析性能，使其可以輕松完成對(duì)以下礦種的測(cè)試：

鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)

銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)

鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)

鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)

鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)

鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)

鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)

鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)

鋁土礦

其它礦類

產(chǎn)品特點(diǎn)

1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高靈敏度、高精度分析

2.可同時(shí)分析40種元素

3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)

4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率

5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì)，雙真空抽速機(jī)構(gòu)，真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)

6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作

7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限

礦產(chǎn)元素檢測(cè)專家EDX9000B Plus

>儀器參數(shù)

儀器配置

全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件

軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。

*光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測(cè)量到的峰背景光譜的數(shù)量

*對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的校正，即基體效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收的校正。

*譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖

*可以通過積分峰的凈面積或使用測(cè)得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。

*可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對(duì)于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡(jiǎn)單的最小二乘擬合進(jìn)行定量分析。

*基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品

*提供多種數(shù)據(jù)訪問接口，可兼容LIMS實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng)

鋁土礦樣品10次連續(xù)測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告