X熒光光譜儀測(cè)金儀原理

X射線熒光光譜法（XRF）測(cè)金儀被普遍認(rèn)為是一種非常準(zhǔn)確的方法，它通過(guò)用高能光子（例如X射線或γ射線）照射樣品并觀察由此產(chǎn)生的X射線熒光來(lái)測(cè)量材料的原子組成。

通常，X射線熒光光譜儀由激發(fā)輻射源（X射線管或放射性同位素），檢測(cè)來(lái)自樣品的受激輻射的輻射檢測(cè)器以及光譜輸出顯示組成。

在X射線熒光光譜法中，該方法開(kāi)始于將樣品暴露于X射線或伽馬射線源。當(dāng)這些高能光子撞擊樣品時(shí)，它們傾向于將電子從構(gòu)成樣品的原子核周圍的軌道中擊出。發(fā)生這種情況時(shí)，來(lái)自原子外軌道或“殼"的電子將落入缺失電子的殼中。由于外層電子比內(nèi)層電子更具能量電子，重新定位的電子具有多余的能量，這些能量被消耗為X射線熒光光子。這種熒光對(duì)于樣品的成分。檢測(cè)器收集該光譜并將其轉(zhuǎn)換為與樣品光譜中各種X射線能量成比例的電脈沖。由于每個(gè)元素都有不同且可識(shí)別的X射線特征，因此我們可以查看發(fā)射光譜的特定部分，并通過(guò)計(jì)數(shù)該扇區(qū)中的脈沖來(lái)確定樣品中所涉及元素的存在和濃度。

能量色散X射線熒光（EDXRF）依靠檢測(cè)器和檢測(cè)器電子設(shè)備解決X射線暴露在樣品上時(shí)產(chǎn)生的光譜峰。 XRF檢測(cè)器可以檢測(cè)到由曝光引起的不同能級(jí)，然后由功能強(qiáng)大的分析軟件對(duì)其進(jìn)行處理。因此得出最終黃金及其他金屬成分含量結(jié)果。

XRF優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)

準(zhǔn)確測(cè)定金和所有貴金屬（如銀，鉑，鈀，銠，銥和釕）的含量同時(shí)測(cè)量所有元素，而無(wú)需根據(jù)要分析的材料切換校準(zhǔn)

非破壞性貴金屬分析可保護(hù)貴重珠寶，古董和收藏品

精確確定其他微量合金元素（包括鉛）的存在和濃度

消除與酸測(cè)試方法相關(guān)的危害和不準(zhǔn)確性

利用我們的集成攝像頭和小點(diǎn)功能，利用電子測(cè)試來(lái)捕獲圖像并專注于小區(qū)域。

測(cè)試性能